干燥应力的产生可以解释为：饱水文物内部细胞腔内的液态水在毛细孔中形成弯月面，当环境空气中水的蒸气分压低于毛细孔中水的饱和蒸气压时，内部水分开始蒸发，由于存在气液界面，因液态水的表面张力作用而产生干燥应力。传统脱水方法通过控制干燥时的环境相对湿度、或采用低表面张力溶剂（如醇醚）等以降低干燥应力，或用PEG、糖等填充剂支撑结构，通过提高文物的机械强度以抵抗干燥应力的作用，但这些方法都不能完全消除干燥应力，只要应力存在文物干燥过程中的变形就难以克服。消除气液界面是避免产生干燥应力的**途径。
真空冷冻干燥法使文物在干燥前先冷冻，使液态水转化为固态冰，利用冰的升华作用进行干燥，真空冷冻干燥法虽然消除了气液界面，但由于液态水到达凝固点转化为冰的时候将发生明显体积膨胀，从而造成结构破坏。超临界流体干燥技术利用气体在临界温度以上无论加多大压力都不能液化的特性，控制饱水文物内部的液体在临界点之上，使气液界面消失，在无液相表面张力情况下进行的干燥过程。常见超临界体系主要有：二氧化碳、水、氨、甲醇、乙醇、乙烷、乙烯等。其中以超临界C仇*受关注，超临界二氧化碳是指温度和压力在临界点。
